定加速度試験
定加速度試験とは？
電子部品や半導体製品などが、定常的な加速度環境から力を受けたときに生じる影響を調べる試験です。具体的には、移動体に加わる重力以外の力により部品などに生じる影響を調べるため実施します。主な対象は、飛行機やロケットなどに用いられる電子部品や半導体製品などです。これらに実際の使用環境とは異なる力を各方向へ加えることで、構造上の欠陥などを検出できます。通常の振動・衝撃試験では検出できない欠陥を検出できる可能性がある点がポイントです。例えば、半導体チップと基盤の接着強度などを確かめることができます。
定加速度試験は、専用の試験装置を用いて対象となる部品に遠心加速度によるストレスを加えることで行います。対応範囲はサービス提供会社で異なりますが、各方向（X・Y・G）へ500～30000Gを加えることなどができます。実際の試験では、対象となる部品の故障を予防するため専用冶具が必要です。試験サンプルが冶具のセット数に満たない場合はダミーの試験サンプルを用います。専用冶具の製作が必要になるケースがある点にも注意が必要です。専用冶具の製作には、通常、数週間程度かかります。
定加速度試験の試験事例
電気製品に対する定加速度試験
引用元：ルネサス エンジニアリングサービス株式会社（https://reg.renesas.com/content/wp-content/uploads/2019/04/teikasokudo_jitsudou.pdf）
- 試験目的：定常的な加速度環境で生じる力を加えることで、電気製品の構造が適正であること、性能が十分であることを確かめる。
- 試験対象：電気製品
- 装置仕様：遠心定加速度試験装置
許容回転数：24000rpm
常用回転数：20000rpm
加速度範囲：100～30000G
加減速時間：2・4・6・8・10分（5ステップ）
AECQ試験に基づく定加速度試験
- 試験目的：車載用電子部品に関する世界規格とされるAECQ試験（車載用信頼性試験）に基づき定加速度試験を実施して車載用電子部品の信頼性を確認すること。
- 試験対象：イメージセンサー・圧力センサーなど
AECQ試験の規格：AEC-Q100 Group G（中空パッケージ試験）
加速度：30000G
印加方向：Y1
印加時間：1分間
MIL規格に基づく定加速度試験
- 試験目的：MIL規格に沿って定加速度試験を実施して一定レベルの品質を備えていることを確かめること。MIL規格は、アメリカ国防省が定めているアメリカ軍の資材調達に関する規格。調達する資材は、加速度などに対して一定の耐性を備えていることが求められる。
- 試験対象：公式サイトに記載なし
MIL規格：MIL-STD-883（軍事・航空宇宙電子システムに使用するデバイスに関する規格）
加速度：20000G
印加方向：Y1
印加時間：1分間
環境試験はトータルで対応できる会社へ
環境に対する部品や部材、装置などへの耐性はさまざまな角度から評価する必要があるので、環境試験も一つの対象品に対して、さまざまな種類の試験を実施しなければなりません。よって、受託試験をお願いする際は、対応幅が広い会社へお願いしましょう。当サイトでおすすめする振動試験受託サービス業者2社の対応範囲を掲載しますので、ぜひ参考にしてください。
